パワーデバイス・振動・車載機器評価試験

パワーサイクル試験/過渡熱抵抗測定(T3Ster)

パワーサイクル試験/過渡熱抵抗測定(T3Ster)

最大負荷電流2400A対応

パワーデバイスに電力をON/OFFと周期的に加えた場合の、電気的あるいは発熱―冷却の繰り返し耐久性を評価します。過渡熱抵抗測定機構(T3Ster)を組み込んでおり、チップ-基板-メタルベース板間のはんだ接合部、Alワイヤ接合部断線などの故障現象を非破壊で検出します。TO247パッケージやケース型のシリコン(Si)、シリコンカーバイド(SiC)、窒化ガリウム(GaN)、酸化ガリウム(Ga2O3)などの半導体チップが搭載されたパワーデバイスを始めとし、PCU(パワーコントロールユニット)や直接冷却型のデバイスにも対応可能です。 

【スペック】
(1号機)最大負荷電流:1800A(MAX)/保有ch:12ch/計測可能電圧:12V
(2号機)最大負荷電流:2400A(MAX)/保有ch:16ch/計測可能電圧:12V
(3号機)最大負荷電流:2400A(MAX)/保有ch:16ch/計測可能電圧:12V 2024年4月導入予定!


規格一覧表

試験名 規格番号 規格名 対象製品など
パワーサイクル試験/過渡熱抵抗測定(T3Ster) IEC60749-34 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 34: Power cycling パワー半導体デバイス
AQG-324 Qualification of Power Modules for Use in Power Electronics Converter Units (PCUs) in Motor Vehicles パワー半導体デバイス/電気自動車(PV/EV)向けPCU
JEITA ED-4701/600 半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(個別半導体特有の試験) パワー半導体デバイス
 パワーデバイス信頼性試験サービスカタログ 

お問い合わせ先
担当:須藤 正喜
TEL:03-3727-7111 FAX:03-3728-1710

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