太陽電池・太陽光発電評価試験

モジュール評価 | PID試験

肉眼では判別できない不具合を評価 PIDの耐性評価のプロフェッショナル

PID(Potential Induced Degradation)は、太陽電池モジュールのセルと金属フレーム間の電位差によって発生する太陽電池モジュールの不具合です。その不具合症状は以下のとおりです。
  ① 出力低下
外観上の変化はないため、実際の発電所では発見しにくい不具合です。発電量を監視することで発見は可能ですが、経済的に大きな損失を受けます。夏の朝や雨上がり時に原因不明の地絡が発生する場合は要注意です。
試験方法はIEC TS 62804-1(結晶シリコン系)およびIEC TS 62804-2(薄膜系)で示されています。
② デラミネーション(層間剥離)
PIDとしてはあまり知られていない不具合で、太陽電池内部のガラス-封止材-セルの各層間の剥離が発生します。こちらは目視でわかる不具合で、初期段階での出力への影響はそれほど大きくありませんが、進行するにつれて出力低下が発生し、外観的にも目立つようになります。
試験方法はIEC TS 62804-1-1(結晶シリコン系)に記載されています。
詳細はPID試験のパンフレットをご参照ください。
 
また、PID試験用の太陽電池モジュールを作製して評価することも可能です。各種材料評価の一環としてご検討ください。
 
出力低下のPID発生前後の太陽電池モジュールのEL画像
PID写真


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担当:坂本 清彦
TEL:0551-42-5061

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