パワーデバイス・振動・車載機器評価試験

高温高湿バイアス試験(高電圧マイグレーション試験)

高温高湿バイアス試験(高電圧マイグレーション試験)

最大負荷電圧3kV対応

高電圧マイグレーション試験とも呼ばれ、パワーデバイスを高温高湿雰囲気中で使用した場合の耐久性を評価します。電界や水分による絶縁リーク電流の増加、ゲートリーク電流の増加、ゲート絶縁膜の破壊、配線間イオンマイグレーションの計測から、絶縁膜の破壊絶縁膜の継時破壊、金属膜配線の電界腐食などの故障現象を検出します。【スペック】
温度範囲:常温~300℃
湿度範囲:常湿~98%RH
最大印加電圧:3kV
最大電流測定範囲:3.2mA
分解能:10nA
計測可能ch数:8ch
絶縁抵抗値常時モニタ可能
高電圧マイグレーション 絶縁抵抗値プロファイル

高電圧マイグレーションテスタ

規格一覧表

試験名 規格番号 規格名 対象製品など
高温高湿バイアス試験
(高電圧マイグレーション試験)
JEITA ED4701/100A 半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(寿命試験Ⅰ) パワー半導体デバイス
JEITA ED4701/200A 半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(寿命試験Ⅱ) パワー半導体デバイス
JEITA ED4704A LSI半導体デバイスのウェハプロセスの信頼性試験方法 MOSFET

パワーデバイス信頼性試験
 サービスカタログ
お問い合わせ先
担当:住田 智希
TEL:03-3727-7111 FAX:03-3728-1710

エレクトロニクス実装技術に原稿が掲載されました。
2020年1月号「パワーデバイスの信頼性評価の概要 ~パワーサイクル試験の技術解説~」
2020年4月号「パワーデバイスの信頼性評価の概要2 ~パワーデバイス材料の性能評価~」
2020年7月号「パワーデバイスの信頼性評価の概要3 ~封止材のパワーサイクル耐性の評価~」
2020年9月号「パワーデバイスの信頼性評価の概要4 ~パワーサイクル試験、エレベータ式熱衝撃試験、高温高湿バイアス試験~」
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