電子機器は実用状態では、周囲環境の変化と自己発熱による温度変化に曝されています。電子機器を構成する部材はこの温度変化を受けて、個々の熱膨張率によって、膨張と収縮を繰り返します。この時、部材間で熱膨張率の違いが大きいと、部材の接合界面に熱応力が発生し、この熱応力により、はんだクラックなどの不良が引き起こされます。このような温度の変化の耐久性確認するため、温度サイクル試験が要求されます。
また、温度と高湿度の組み合わせによって生じる結露耐性を確認するために温湿度サイクル試験が要求されることもあります。
ケミトックスでは、上記以外にもお客様の評価目的に合わせた、適切な試験をご提案いたします。
温度(湿度)サイクル試験の方法とケミトックス所有装置の特徴
大分類 |
液槽式 |
気槽式 |
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名称 |
ホット |
エレベータ式 |
ダンパー式 |
急速温度 |
温(湿)度 |
熱媒体 |
シリコン |
空気 |
空気 |
空気 |
空気 |
温度 |
試料移動式 |
試料昇降式 |
空気入替式 |
空気入替式 |
空気入替式 |
規格例 |
JIS、IPC |
JASO、IEC |
JIS、JEITA |
AQG324 |
JIS、JPCA |
温湿度範囲 |
常温~260℃ |
-77~0℃ |
-65~-10℃ |
-70~180℃ |
-40~150℃ |
温度 |
10~20秒以内 |
10秒以内 |
5分以内 |
15℃/分 |
上昇4.0℃/分 |