第1回　パワーデバイス信頼性評価と熱抵抗・熱伝導率評価

次世代パワー半導体が用いられるパワーデバイスおよびその材料にとって欠かせない信頼性試験について、パワーサイクル試験・逆バイアス試験・V-t試験・熱衝撃試験を中心に最新動向や事例を交えてご紹介。 他ではお見せできない社内実験の事例もご紹介いたします。
他に、ケミトックスが新規開発したASTM D5470に基づきT3STER(パワーサイクル試験機)を活用した過渡熱抵抗測定と、 そこから得られる熱抵抗値に基づく放熱材料およびTIM材にとって必須である熱伝導率評価方法およびその実例についてご紹介。