パワーデバイス評価

パワーサイクル試験/過渡熱抵抗測定(T3Ster)

パワーサイクル試験/過渡熱抵抗測定(T3Ster)

最大負荷電流1800A対応

パワーデバイスに電気的ストレスをON/OFF状態で周期的に加えた場合の、電気的あるいは熱的ストレスの変化に対する耐久性を評価します。過渡熱抵抗測定機構(T3Ster)を組み込んでおり、半導体チップ周辺の構造、チップ-基板-メタルベース板の接合部、はんだ・Alワイヤ接合部クラックなどの故障現象を非破壊で検出します。
【スペック】
最大負荷電流:1800A(MAX)/12ch/12V
パワーサイクル試験器

お問い合わせ先
担当:住田 智希
TEL:03-3727-7111 FAX:03-3728-1710

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規格一覧表

試験名 規格番号 規格名 対象製品など
パワーサイクル試験/過渡熱抵抗測定(T3Ster) IEC60749-34 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 34: Power cycling パワー半導体デバイス
AQG-324 Qualification of Power Modules for Use in Power Electronics Converter Units (PCUs) in Motor Vehicles 自動車用PCU
JEITA ED-4701/600 半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(個別半導体特有の試験) パワー半導体デバイス